Контрольно-измерительные приборы

Прецизионный анализатор иммитанса Wayne Kerr WK 6520B. Диапазон частот 20 Гц - 20 МГц (разреш. 0,01 мГц), базовая погрешность 0,05 %, сопротивление R, Z (0,0 1мО….2 ГОм), емкость (1 фФ…1 Ф), индуктивность ( 0,1 нГн…2 кГн), фазовый сдвиг -180…+180 0, добротность Q (0,00001…1000), тангенс угла потерь D (0,00001…1000), реактивное сопротивление (X), компл. проводимость Y (адмитанс), проводимость (G), реактивная проводимость (B); отображение графика зависимости 2-х любых параметров от частоты (режим ГКЧ), интерфейс USB (подкл. клавиатуры, мыши, внешних носителей), VGA, LAN, GPIB, запись/считывание профилей (20 ячеек), TFT сенсорный дисплей (640×480), 190×440 х525 мм, масса 14,5 кг

Анализатор индуктивности Wayne Kerr WK 3255BQ. Диапазон частот 20 Гц- 1 МГц (более 800 фиксированных частот), базовая погрешность 0,1%, измерение коэффициента трансформации трансформаторов, внутренний источник 1 А и внешний источник до 125 А (модуль 3265В), интерфейс GPIB (опция)

Тепловизор testo 870-2, диапазон измеряемых температур: от -20 °C до +280 °C, ИК матрица: 160х120 пикселей, тепловая чувствительность (NETD): ≤ 0,1 °C (100 мК), встроенная цифровая камера.

Прецизионный анализатор иммитанса Wayne Kerr WK 6520P. Диапазон частот 20 Гц - 20 МГц (разреш. 0,01 мГц), базовая погрешность 0,05 %, сопротивление R, Z (0,0 1мО….2 ГОм), емкость (1 фФ…1 Ф), индуктивность ( 0,1 нГн…2 кГн), фазовый сдвиг -180…+180 0, добротность Q (0,00001…1000), тангенс угла потерь D (0,00001…1000), реактивное сопротивление (X), компл. проводимость Y (адмитанс), проводимость (G), реактивная проводимость (B); интерфейс USB (подкл. клавиатуры, мыши, внешних носителей), VGA, LAN, GPIB, запись/считывание профилей (20 ячеек), TFT сенсорный дисплей (640×480), 190×440 х525 мм, масса 14,5 кг

Прецизионный измеритель RLC АКТАКОМ АММ-3068 с функцией графического анализа. Тестовая частота 20 Гц...300 кГц. Базовая погрешность 0,05%. 3 cкорости измерения (наилучшая 9 мс/сек). Емкость (C) 0,00001пФ-10Ф, индуктивность (L) 0,00001мкГн-100кГн, сопротивление (Z, R, X, DCR) 0,00001Ом-100МОм, проводимость (Y, G, B) 0,00001мкСм-100См, добротности (Q) 0,00001-99999,9, тангенса угла потерь (D) 0,00001-10, фазовый угол, отклонение%. Посл. и параллельная схема замещения. Внутренний источник смещения (0В...±10В / 0мА...±100мА, опция - 1А). Независимый источник смещения (00В...±10В / 0мА...±50мА). Возможность подключения внешнего источника смещения (до 120 А). Свипирование по 150 точкам. Выбор внутр.импеданса (AC): 30 Ом, 50 Ом, 100 Ом. Компаратор. Графический анализ. Одновременное отобр. 4 параметра. Внутр. память -100 установок. Сохранение на USB. Интерфейсы RS232C, USB, LAN, HANDLER, GPIB (опция), DCI. ЖК-дисплей 7" TFT. Габариты 400х132х385мм, масса 13 кг.

Тепловизор testo 875-2i, диапазон измеряемых температур: от -30 °C до +350 °C, ИК матрица: 160х120 пикселей, тепловая чувствительность (NETD): ≤ 0,05 °C (50 мК), встроенная цифровая камера.

Прецизионный анализатор иммитанса Wayne Kerr WK 6550B. Диапазон частот 20 Гц - 50 МГц (разреш. 0,01 мГц), базовая погрешность 0,05 %, сопротивление R, Z (0,0 1мО….2 ГОм), емкость (1 фФ…1 Ф), индуктивность ( 0,1 нГн…2 кГн), фазовый сдвиг -180…+180 0, добротность Q (0,00001…1000), тангенс угла потерь D (0,00001…1000), реактивное сопротивление (X), компл. проводимость Y (адмитанс), проводимость (G), реактивная проводимость (B); отображение графика зависимости 2-х любых параметров от частоты (режим ГКЧ), интерфейс USB (подкл. клавиатуры, мыши, внешних носителей), VGA, LAN, GPIB, запись/считывание профилей (20 ячеек), TFT сенсорный дисплей (640×480), 190×440 х525 мм, масса 14,5 кг

4+16 каналов, 500 МГц, част. дискретизации 4 ГГц, память 2 Мвыб, цветной дисплей 8,5 дюймов, USB 2.0

Тепловизор testo 885-2, диапазон измеряемых температур: от -30 °C до +350 °C, ИК матрица: 320х240 пикселей, тепловая чувствительность (NETD): ≤ 0,3 °C (30 мК), встроенная цифровая камера.

• Генерирование импульсов с полосой до 330 МГц и сигналов стандартной/произвольной формы с полосой до 500 МГц, частотой дискретизации 2,5 Гвыб./с и разрешением 14 бит, последовательностей со скоростью передачи до 660 Мбит/с
• Генерирование гауссова шума с настраиваемым коэффициентом амплитуды позволяет задавать количество вносимых искажений при проведении тестирования различных последовательных шин в предельных режимах

• Разрешение: 6½ разрядов
• Скорость измерений: до 50 000 отсчетов в секунду
• Память: до 2 млн. отсчетов