Контрольно-измерительные приборы

2 аналоговых канала; 100 МГц; частота дискретизации в каждом канале 2,5 Гвыб/с; разрешение по вертикали 8 (11) бит; длина записи 5 млн. точек на каждый канал; USB 2.0; Ethernet 10/100; 29 автоматических измерений; БПФ; Wave Inspector

диапазон измеряемых температур: от -20 °C до +650 °C; ИК матрица: 240х180 пикселей; тепловая чувствительность (NETD): ≤ 0,05 °C (50 мК)

Тепловизор Fluke TiS40, IFOV 3.9 мрад, разрешение 160 x 120 (19,200 точек), D:S 257:1, диапазон измеряемых температур от -20 °C до +350 °C, нерегулируемая фокусировка

Генератор сигналов произвольной формы Tektronix AFG3101C; 1 канал; выходной сигнал: синус, меандр, импульс с перестраиваемым временем нарастания, пила, треугольник, Sin x/x, нарастающая и спадающая экспонента, функции Гаусса, Лоренца, Хевисайна, шум; аналоговая полоса пропускания 100 МГц, погрешность установки частоты ±1*10-6 ; выходной уровень от 10мВ до 10Впик-пик@50 Ом; виды модуляции: АМ, ЧМ, ФМ, ЧМн, ИМ, ГКЧ; выход ТТЛ с вводимой задержкой; ЦАП 14 бит; макс. дискретизация 1 ГГц; длина записи до 128 кБ; ЖК дисплей 5,6 дюймов; ПО для формирования сигнала произвольной формы; интерфейсы: USB, LAN, GPIB; масса 4,5 кг

Прецизионный анализатор иммитанса Wayne Kerr WK 6505B. Диапазон частот 20 Гц - 5 МГц (разреш. 0,01 мГц), базовая погрешность 0,05 %, сопротивление R, Z (0,0 1мО….2 ГОм), емкость (1 фФ…1 Ф), индуктивность ( 0,1 нГн…2 кГн), фазовый сдвиг -180…+180 0, добротность Q (0,00001…1000), тангенс угла потерь D (0,00001…1000), реактивное сопротивление (X), компл. проводимость Y (адмитанс), проводимость (G), реактивная проводимость (B); отображение графика зависимости 2-х любых параметров от частоты (режим ГКЧ), интерфейс USB (подкл. клавиатуры, мыши, внешних носителей), VGA, LAN, GPIB, запись/считывание профилей (20 ячеек), TFT сенсорный дисплей (640×480), 190×440 х525 мм, масса 14,5 кг

Генератор сигналов произвольной формы Tektronix AFG3252C; 2 канала; выходной сигнал: синус, меандр, импульс с перестраиваемым временем нарастания, пила, треугольник, Sin x/x, нарастающая и спадающая экспонента, функции Гаусса, Лоренца, Хевисайна, шум; аналоговая полоса пропускания 240 МГц, погрешность установки частоты ±1*10-6 ; выходной уровень от 50мВ до 5Впик-пик до 200 МГц / до 4Впик-пик свыше 200 МГц; виды модуляции: АМ, ЧМ, ФМ, ЧМн, ИМ, ГКЧ; выход ТТЛ с вводимой задержкой; ЦАП 14 бит; макс. дискретизация 1 ГГц; длина записи до 128 кБ; ЖК дисплей 5,6 дюймов; ПО для формирования сигнала произвольной формы; интерфейсы: USB, LAN, GPIB; масса 4,5 кг

Генератор сигналов произвольной формы Tektronix AFG3022C; 2 канала; выходной сигнал: синус, меандр, импульс с перестраиваемым временем нарастания, пила, треугольник, Sin x/x, нарастающая и спадающая экспонента, функции Гаусса, Лоренца, Хевисайна, шум; аналоговая полоса пропускания 25 МГц, погрешность установки частоты ±1*10-6 ; выходной уровень от 10мВ до 10Впик-пик@50 Ом; виды модуляции: АМ, ЧМ, ФМ, ЧМн, ИМ, ГКЧ; выход ТТЛ с вводимой задержкой; ЦАП 14 бит; дискретизация 250 МГц; длина записи до 128 кБ; ЖК дисплей 5,6 дюймов; ПО для формирования сигнала произвольной формы; интерфейсы: USB, LAN, GPIB; масса 4,5 кг

Измеритель иммитанса RLC Wayne Kerr WK 4350. Диапазон частот тест-сигнала 20 Гц - 500 кГц, базовая погрешность 0,1 %, измерение сопротивления (R,Z,X) до 1 ГОм, ёмкости до 1Ф, индуктивности до 100 кГн, тангенса угла потерь (0,00001–1000), добротности ( 0,01 – 1000), фазового сдвига -180…180°, сопротивления постоянному току до 100 МОм, источник внутр. пост. смещения ±2 В, ЖК-индикатор 5 разрядов (основ. и вспомог. параметр), интерфейсы GPIB, RS-232, сортировщик по абсолютным и относительным пределам (10 ячеек), 104×322×285 мм, масса 2,7 кг.

диапазон измеряемых температур: от -20 °C до +350 °C; ИК матрица: 160х120 пикселей; тепловая чувствительность (NETD): ≤ 0,10 °C (100 мК)

4 аналоговых канала; 500 МГц; частота дискретизации в каждом канале 2,5 Гвыб/с; разрешение по вертикали 8 (11) бит; длина записи 5 млн. точек на каждый канал; USB 2.0; Ethernet 10/100; 29 автоматических измерений; БПФ; Wave Inspector

Тепловизор Fluke TiS20, IFOV 5.2 мрад, разрешение 120 x 90 (10,800 точек), D:S 193:1, диапазон измеряемых температур от -20 °C до +350 °C, нерегулируемая фокусировка

диапазон измеряемых температур: от -20 °C до +150 °C; ИК матрица: 160х120 пикселей; тепловая чувствительность (NETD): ≤ 0,08 °C (100 мК)